GS6081
GS6081是一种高速BiCMOS集成电路,设计用于驱动1到4根75欧姆同轴电缆。GS6081可以驱动数据速率高达5.94Gb/s,并提供两个可选的转换速率,以达到符合SMPTE ST 424, SMPTE ST 292和SMPTE ST 259。
特性
- 支持270Mb/s ~ 5.94Gb/s的数据速率
- SMPTE ST 424, SMPTE ST 292和SMPTE ST 259兼容
- 支持DVB-ASI在270Mb/宽共模范围输入缓冲区
- 100 mv的敏感性
- 支持直流耦合到工业标准差分逻辑
- 片上100欧姆差分数据输入终端
- 输入信号跟踪均衡
- 双差动同轴电缆驱动输出
- 选择杀了利率
- 可调输出摆动从500mVpp到1040mVpp
- 每个输出的独立禁用控件
- 鲁棒信号存在函数
- 优秀的输出眼质量bet188软件下载
- 电源运行在+3.3V或+2.5V
- 135mW功耗(+2.5V电源)
- 工作温度范围:-40℃~ +85℃
- 占地面积小的QFN包装(4毫米x4毫米)
- 新的双输出引脚出来
- 使用GS6080作为单输出变量,与GS2988兼容
- 无铅,符合RoHS标准
- 6G UHD-SDI、SMPTE ST 424、SMPTE ST 292和SMPTE ST 259同轴电缆串行数字接口
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基础零件号(1)
GS6081
部分描述
6g uhd-sdi / 3g / hd / sd双输出电缆驱动器
#的领导
16
包类型
QFN
Pb-Free(2)
是的
回流温度°C(3)
260
铅或球饰
哑光Sn
韩剧评级
1
生命终结参考(6)
-
最后一次购买(6)
-
吉格101 a & b(12)
是的
关于欧盟2012/19 /(19)
是的
中国RoHS 2 GB/T 26572-2011
是的下载报告
无卤素/低IEC 61249-2-21/JS709C(20)
没有
RoHS符合异常(8)
没有
1 Exp。9/20/2015
-
2 (a) Exp。12/31/2012
-
2 (b) (3) Exp 12/31/2011
-
3实验。12/31/2011
-
4实验。12/31/2011
-
5 Exp。TBD
-
6 (a) * Exp。TBD
-
6 (b) * Exp。TBD
-
6 (c) * Exp。TBD
-
7 (a) * Exp。TBD
-
7 (b) * Exp。TBD
-
7 (c) iii Exp。1/1/2013
-
8 (b) Exp。TBD
-
9 Exp。TBD
-
11 (a) Exp。9/24/2010
-
12 Exp。9/24/2010
-
13 (a) * Exp。TBD
-
13 (b) Exp。TBD
-
14 Exp。1/1/2011
-
15 * Exp。TBD
-
设备质量(毫克)
参考ipc 1752-2
须测试(10)
热循环晶须试验
(-40°C至+85°C / 4000次循环)
(-40°C至+85°C / 4000次循环)
是的
环境温度储存,晶须测试
(50°C, 4000小时)
(50°C, 4000小时)
是的
60°C/90%RH 4000小时,晶须测试
是的
汽车
原子能委员会Q100合格(14)
N/A
年级(11)
N/A
原子能委员会Q101(22)
N/A
PPAP准备好了(15)
N/A
imd发布(16)
N/A
声明和报告
ipc - 1752 - 2
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GS6081
部分描述
6g uhd-sdi / 3g / hd / sd双输出电缆驱动器
#的领导
16
包类型
QFN
Pb-Free(2)
是的
回流温度°C(3)
260
铅或球饰
哑光Sn
韩剧评级
1
生命终结参考(6)
-
最后一次购买(6)
-
吉格101 a & b(12)
是的
关于欧盟2012/19 /(19)
是的
中国RoHS 2 GB/T 26572-2011
是的下载报告
无卤素/低IEC 61249-2-21/JS709C(20)
没有
RoHS符合异常(8)
没有
1 Exp。9/20/2015
-
2 (a) Exp。12/31/2012
-
2 (b) (3) Exp 12/31/2011
-
3实验。12/31/2011
-
4实验。12/31/2011
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5 Exp。TBD
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6 (a) * Exp。TBD
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6 (b) * Exp。TBD
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6 (c) * Exp。TBD
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7 (a) * Exp。TBD
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7 (b) * Exp。TBD
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7 (c) iii Exp。1/1/2013
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8 (b) Exp。TBD
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9 Exp。TBD
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11 (a) Exp。9/24/2010
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12 Exp。9/24/2010
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13 (a) * Exp。TBD
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13 (b) Exp。TBD
-
14 Exp。1/1/2011
-
15 * Exp。TBD
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设备质量(毫克)
参考ipc 1752-2
须测试(10)
热循环晶须试验
(-40°C至+85°C / 4000次循环)
(-40°C至+85°C / 4000次循环)
是的
环境温度储存,晶须测试
(50°C, 4000小时)
(50°C, 4000小时)
是的
60°C/90%RH 4000小时,晶须测试
是的
汽车
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N/A
年级(11)
N/A
原子能委员会Q101(22)
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PPAP准备好了(15)
N/A
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